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菲希爾X射線測(cè)厚儀XAN215信息
點(diǎn)擊次數(shù):82 更新時(shí)間:2025-12-25
菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN215應(yīng)用領(lǐng)域
1. 珠寶與貴金屬行業(yè)
黃金、鉑金、白銀及其合金的純度分析
K 金成色檢測(cè)(如 18K、24K 金)
珠寶鍍層厚度測(cè)量(如銠鍍層)
牙科合金成分分析
2. 工業(yè)質(zhì)量控制
電子行業(yè):多層鍍層 (如 Au/Ni/Cu) 厚度測(cè)量
電鍍行業(yè):鐵基體上的鋅層、鉻層等測(cè)量
汽車(chē)零部件:功能性鍍層檢測(cè)
PCB 板:鍍層厚度與成分分析
3. 其他領(lǐng)域
硬幣和紀(jì)念幣的材質(zhì)鑒定
文物和藝術(shù)品的無(wú)損檢測(cè)
操作與軟件
WinFTM® 軟件(標(biāo)配 BASIC 版) 提供直觀操作界面:
一鍵式測(cè)量流程,15-60 秒完成分析
多語(yǔ)言支持 (含中文),操作簡(jiǎn)單
測(cè)量數(shù)據(jù)自動(dòng)記錄、存儲(chǔ)和報(bào)告生成
可建立產(chǎn)品數(shù)據(jù)庫(kù),實(shí)現(xiàn)快速比對(duì)

